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XAU光譜分析儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。 應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

XTU-BL X熒光光譜儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測(cè)厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。 測(cè)量面積：最小0.002mm²鍍層分析：23層鍍層24種元素儀器特點(diǎn)：可手動(dòng)變焦儀器優(yōu)勢(shì)：同元素不同層分析

XTU-50B X射線熒光譜儀 XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。

出租出售X-RAY測(cè)厚儀 XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。

一款高精密的微型多線咬合的高精密滑軌，測(cè)厚儀高精密XY移動(dòng)平臺(tái)滑軌可用于X-RAY測(cè)厚儀的XY軸的位移控制，此滑軌使用多線齒輪結(jié)構(gòu)從而使滑軌非常順滑和快速同步，滑軌精工細(xì)作，操作流暢，精準(zhǔn)度高，調(diào)節(jié)速度快，樣品直接放置在平整的支撐臺(tái)上，或者定位精度更高的手動(dòng)XY工作臺(tái)上。高精密的移動(dòng)平臺(tái)可以精準(zhǔn)移動(dòng)定位0.01mm。

電鍍液測(cè)試樣品杯，嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理，用來(lái)測(cè)試藥水溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染。電鍍液測(cè)量杯