鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量金屬或其他材料表面鍍層厚度的儀器，廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域。鍍層測(cè)厚儀通過不同的物理原理來測(cè)量涂層的厚度，常見的原理包括磁性感應(yīng)原理、渦流原理和X射線熒光原理。磁性感應(yīng)原理適用于測(cè)量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，渦流原理適用于測(cè)量導(dǎo)電性涂層在導(dǎo)電性基材上的厚度，X射線熒光原理則通過測(cè)量被激發(fā)出的熒光X射線的能量和強(qiáng)度來確定鍍層的元素組成和厚度。
 

　　1、磁性感應(yīng)原理：
 

　　利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。
 

　　適用于測(cè)量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。
 

　　2、渦流原理：
 

　　當(dāng)交變電流通過線圈時(shí)，會(huì)在導(dǎo)體中產(chǎn)生渦流。鍍層測(cè)厚儀的探頭發(fā)射交變電流，涂層中的渦流會(huì)對(duì)探頭產(chǎn)生影響，通過測(cè)量這種影響的變化，可以計(jì)算出涂層的厚度。
 

　　適用于測(cè)量導(dǎo)電性涂層在導(dǎo)電性基材上的厚度，如金屬涂層、電鍍層等。
 

　　3、X射線熒光原理：
 

　　通過向被測(cè)物體表面發(fā)射X射線，激發(fā)其表面元素產(chǎn)生熒光信號(hào)，然后通過探測(cè)器收集反射回來的熒光信號(hào)，經(jīng)過智能軟件算法推算出鍍層的厚度。
 

　　具有測(cè)量精確、速度快、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，特別適用于檢測(cè)難度大的微小樣品。
 

　　全面升級(jí)XD-1000全自動(dòng)智能X熒光光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件，如線路?板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù)，人機(jī)交互全面優(yōu)化，操作更加方便快捷。